本院為配合教學卓越計畫L-奈米科技學門教學改進計畫，於96年12月05日星期三上午9時30分至12時舉辦「非破壞性檢測研討會」。

	丁鯤院長向Mr. Lagleder介紹研究近況。

特邀請美國IHI-SOUTHWEST TECHNOLOGIES INC.世界著名非破壞性檢測公司總裁Grady L.Lagleder訪問本校，美國IHI-SOUTHWEST TECHNOLOGIES INC. 為美國著名研究所SOUTHWEST INSTITUTE OF TECHNOLOGY與日本IHI公司合組之世界著名之非破壞性檢測公司，以執行非破壞性檢測技術為主。

蒞校訪問期間舉辦「非破壞性檢測研討會」，主題為「美國核能設備最新檢測技術與發展」，介紹最新之檢測技術，提昇本院學生與教師新觀念。